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代(dai)理(li)産(chan)品(pin)
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檢(jian)測(ce)器(qi)數(shu)量更多(duo)，高(gao)達132枚獨立物(wù)理(li)位置檢(jian)測(ce)器(qi)，對成(cheng)高(gao)達136箇(ge)真實數(shu)據通(tong)道，能(néng)夠清(qing)晰區(qu)分(fēn)不同粒度等(deng)級間散射光強譜圖差(cha)異，确保不缺漏絲(si)毫信(xin)息,快速(su)、準确的(de)真實粒度測(ce)置。
專(zhuan)利設(shè)計(ji)的(de)"X" 型對數(shu)排(pai)布檢(jian)測(ce)器(qi)陣列，可(kě)以(yi)準确記錄散射光強信(xin)号,不筦(guan)單(dan)峰、多(duo)峰，準确分(fēn)析粒度分(fēn)布
專(zhuan)利設(shè)計(ji)的(de)"X" 型對數(shu)排(pai)布檢(jian)測(ce)器(qi)陣列，可(kě)以(yi)準确記錄散射光強信(xin)号,不筦(guan)單(dan)峰、多(duo)峰，準确分(fēn)析粒度分(fēn)布
